分析原(yuan)理：吸收紫外光能(neng)量，引起分子中電子能(neng)級的躍遷

譜圖的表示方法：相對吸收(shou)光(guang)能量(liang)隨吸收(shou)光(guang)波長的變化  

提供的(de)(de)信息(xi)：吸收峰的(de)(de)位(wei)置、強度和(he)形狀，提供分(fen)子(zi)中不同電子(zi)結構的(de)(de)信息(xi)

分析原理：被電磁輻射(she)激發后(hou)，從(cong)最低單(dan)線激發態回到(dao)單(dan)線基(ji)態，發射(she)熒光(guang)  

譜(pu)圖的表示方(fang)法(fa)：發射的熒光(guang)能量隨(sui)光(guang)波(bo)長的變化  

提供(gong)(gong)的信息：熒光效率和壽命(ming)，提供(gong)(gong)分子中(zhong)不同電子結(jie)構的信息

分(fen)析原理(li)：吸收紅外光能(neng)量，引起具有偶極矩變化(hua)的分(fen)子(zi)的振動、轉動能(neng)級躍遷  

譜(pu)圖的表示方法：相對透射光能(neng)量隨透射光頻率變化  

提供的信息(xi)：峰的位置、強度(du)和形狀，提供功(gong)能(neng)團或化學鍵的特征振動頻率

分析原理(li)：吸(xi)收光能(neng)后，引起具(ju)有極化率變化的分子(zi)振動(dong)，產生(sheng)拉(la)曼散(san)射(she) 

譜圖的表示方法：散射光能量(liang)隨拉曼位移的變化  

提供的信息：峰的位置、強(qiang)度和形狀，提供功能團或(huo)化學鍵的特征振動(dong)頻率

分(fen)析原(yuan)理：在(zai)外磁場(chang)中(zhong)，具(ju)有核磁矩的原(yuan)子(zi)核，吸(xi)收(shou)射頻能量(liang)，產生(sheng)核自旋能級的躍(yue)遷

譜(pu)圖的表示方法：吸(xi)收光能量隨化學位(wei)移(yi)的變(bian)化  

提(ti)(ti)供(gong)(gong)的信息：峰的化(hua)學位移、強度、裂(lie)分數(shu)和(he)偶合(he)常(chang)數(shu)，提(ti)(ti)供(gong)(gong)核的數(shu)目、所處化(hua)學環境和(he)幾(ji)何(he)構(gou)型(xing)的信息

分(fen)析(xi)原(yuan)理：在(zai)外磁場中，分(fen)子(zi)中未(wei)成對電子(zi)吸收射(she)頻能(neng)量，產生電子(zi)自旋(xuan)能(neng)級躍(yue)遷 

譜圖(tu)的(de)表示方法：吸收光能量或微(wei)分能量隨磁(ci)場強(qiang)度(du)變化  

提供(gong)的信息：譜線位置、強(qiang)度、裂分數目和超精細分裂常數，提供(gong)未成(cheng)對電子(zi)密度、分子(zi)鍵特性及幾何構型信息

分(fen)析(xi)原(yuan)理：分(fen)子(zi)在(zai)真空中被(bei)電(dian)子(zi)轟擊，形成離子(zi)，通過電(dian)磁場按不同m/e分(fen)離  

譜圖(tu)的(de)表示方法：以棒圖(tu)形(xing)式表示離子的(de)相對峰(feng)度(du)隨m/e的(de)變化(hua)  

提供的信息：分子離子及(ji)碎片離子的質量數及(ji)其相對峰度，提供分子量，元素(su)組(zu)成及(ji)結構的信息

分析原理：樣品中各組分在流(liu)動相(xiang)和固定相(xiang)之間(jian)，由于分配系數不同(tong)而分離  

譜(pu)圖的表示方法(fa)：柱后流出物濃(nong)度隨保留值的變化(hua)  

提供的信息：峰的保留值與組分(fen)熱力學參數有關，是定性依據(ju)；峰面(mian)積與組分(fen)含(han)量(liang)有關

分(fen)析(xi)原(yuan)理：探針分(fen)子(zi)保留值(zhi)的(de)變化取(qu)決于它(ta)和作為固定相的(de)聚(ju)合物樣品之間(jian)的(de)相互作用力(li) 

譜圖的(de)表示方(fang)法：探針分(fen)子比保(bao)留體積(ji)的(de)對(dui)數值(zhi)隨柱溫(wen)倒數的(de)變化曲線  

提供(gong)的(de)信(xin)息：探針分子保留值與溫度的(de)關(guan)系提供(gong)聚合物的(de)熱力學參數(shu)

分(fen)析原(yuan)理：高分(fen)子材料在(zai)一(yi)(yi)定(ding)條件下(xia)瞬間裂(lie)解，可獲得具有(you)一(yi)(yi)定(ding)特(te)征(zheng)的(de)碎片  

譜(pu)圖的表示方法：柱后(hou)流出物濃度隨保留值的變化  

提供的信息：譜圖(tu)的指紋性或特征碎(sui)片峰，表征聚合物(wu)的化學(xue)結構和(he)幾何構型

分(fen)(fen)析(xi)原(yuan)理：樣品通過(guo)凝膠(jiao)柱時，按分(fen)(fen)子(zi)的流(liu)體力學體積不同進行(xing)分(fen)(fen)離，大分(fen)(fen)子(zi)先流(liu)出

譜圖的(de)表示方法：柱后(hou)流出物濃度(du)隨保(bao)留值的(de)變化(hua)  

提供的(de)(de)信息：高聚物(wu)的(de)(de)平均分(fen)子量及(ji)其分(fen)布(bu)

分析原理(li)：在(zai)控溫環境中(zhong)，樣品重量(liang)隨溫度或時(shi)間變化  

譜圖的(de)(de)表示方(fang)法：樣品的(de)(de)重量分(fen)數(shu)隨溫度或時間的(de)(de)變化曲(qu)線  

提(ti)供的信息：曲線陡降處為樣品(pin)(pin)失重區(qu)，平臺(tai)區(qu)為樣品(pin)(pin)的熱穩定區(qu)

分析原(yuan)理：樣品與參比物處于同一控溫環(huan)境中，由于二者導熱系數不同產生溫差，記錄溫度隨環(huan)境溫度或時間的(de)變化 

譜圖的(de)表示方(fang)法：溫(wen)差隨環境溫(wen)度或時間的(de)變(bian)化(hua)曲線  

提供(gong)的信息：提供(gong)聚合物熱轉變溫度及各種熱效應的信息

分析原理：樣品與(yu)參比物處于同一控溫(wen)環境(jing)(jing)中，記錄(lu)維持(chi)溫(wen)差為(wei)零時(shi)，所需能量隨環境(jing)(jing)溫(wen)度或時(shi)間的變(bian)化(hua)

譜圖的表示方法：熱量(liang)或其變化率隨環(huan)境溫度或時間的變化曲(qu)線  

提供的(de)信息：提供聚合物熱轉(zhuan)變溫度及各種(zhong)熱效應的(de)信息

分析原理：樣品(pin)在恒力作用(yong)下產生的形變(bian)隨溫度(du)或時間變(bian)化  

譜(pu)圖的表示方法：樣品(pin)形變(bian)值隨溫度或時間(jian)變(bian)化(hua)曲線(xian)  

提供的信息：熱轉變溫度和力學狀(zhuang)態

分析原理：樣品(pin)在周期性變(bian)化(hua)(hua)的(de)(de)外力作用(yong)下產生(sheng)的(de)(de)形(xing)變(bian)隨(sui)溫度的(de)(de)變(bian)化(hua)(hua)  

譜圖的表示(shi)方(fang)法(fa)：模量或(huo)tgδ隨溫度(du)變化曲線(xian)  

提供的(de)信息：熱轉變(bian)溫度模量和tgδ

分析原理：高能電子束穿透(tou)試樣時發生散射、吸收、干(gan)涉和(he)衍射，使得在相平面形成襯(chen)度，顯示出圖象

譜圖(tu)的表示方法：質厚襯度(du)象、明場(chang)衍襯象、暗場(chang)衍襯象、晶格條(tiao)紋(wen)象、和分子象

提供的(de)信息：晶(jing)(jing)體形貌、分(fen)子量分(fen)布、微孔(kong)尺寸分(fen)布、多相(xiang)結構和晶(jing)(jing)格與缺陷(xian)等

分析原理：用(yong)(yong)電子(zi)技術檢測高能電子(zi)束(shu)與樣品作用(yong)(yong)時產生(sheng)二次(ci)電子(zi)、背散射(she)電子(zi)、吸收(shou)電子(zi)、X射(she)線等并(bing)放大成象  

譜圖的(de)表示方法：背散射象(xiang)、二次電(dian)子(zi)象(xiang)、吸收(shou)電(dian)流象(xiang)、元素的(de)線分布和面(mian)分布等  

提供的信(xin)息：斷(duan)口形貌、表面顯微結(jie)構(gou)、薄膜內部的顯微結(jie)構(gou)、微區元素分(fen)析與定(ding)量元素分(fen)析等(deng)

原(yuan)理(li)：通過原(yuan)子(zi)化(hua)器將待(dai)測試樣原(yuan)子(zi)化(hua)，待(dai)測原(yuan)子(zi)吸(xi)收待(dai)測元(yuan)素空心陰極燈的(de)光(guang)，從而(er)使用檢測器檢測到(dao)的(de)能量(liang)變低，從而(er)得到(dao)吸(xi)光(guang)度。吸(xi)光(guang)度與(yu)待(dai)測元(yuan)素的(de)濃度成正比。

原理：利(li)用氬等離子(zi)體(ti)產(chan)生的高溫使用試樣完全分解形(xing)成(cheng)激(ji)發(fa)(fa)(fa)態的原子(zi)和離子(zi)，由于激(ji)發(fa)(fa)(fa)態的原子(zi)和離子(zi)不穩定，外(wai)層電子(zi)會從(cong)激(ji)發(fa)(fa)(fa)態向(xiang)低(di)的能級躍(yue)遷，因此發(fa)(fa)(fa)射出特征的譜線。通過(guo)光柵等分光后，利(li)用檢測(ce)器檢測(ce)特定波長的強度，光的強度與待(dai)測(ce)元(yuan)素濃度成(cheng)正比。

X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)是原子內層電(dian)子在(zai)高速運動電(dian)子的轟擊(ji)下躍遷而產(chan)(chan)生(sheng)的光輻射(she)(she)(she)，主要有連(lian)續X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)和特征X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)兩種。晶體可(ke)被(bei)用作(zuo)X光的光柵(zha)，這些很大數目的原子或離子/分子所產(chan)(chan)生(sheng)的相(xiang)干(gan)散射(she)(she)(she)將會(hui)發生(sheng)光的干(gan)涉(she)作(zuo)用，從而影響散射(she)(she)(she)的X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的強度增強或減弱。由于大量原子散射(she)(she)(she)波的疊(die)加，互相(xiang)干(gan)涉(she)而產(chan)(chan)生(sheng)最大強度的光束稱為X射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)的衍(yan)射(she)(she)(she)線(xian)(xian)(xian)。

滿足衍(yan)射條件，可應(ying)用布拉格公式：2dsinθ=λ

應用(yong)已(yi)知(zhi)波長(chang)的X射線來(lai)測量(liang)(liang)θ角，從(cong)(cong)而計算出(chu)晶(jing)面間距d，這是用(yong)于X射線結構分析;另一個是應用(yong)已(yi)知(zhi)d的晶(jing)體(ti)來(lai)測量(liang)(liang)θ角，從(cong)(cong)而計算出(chu)特征X射線的波長(chang)，進而可(ke)在已(yi)有(you)資(zi)料(liao)查出(chu)試樣中所含的元素。

HPLC選用(yong)的(de)毛細(xi)管(guan)(guan)一(yi)般(ban)內徑約為(wei)50μm(20～200μm)，外徑為(wei)375μm，有(you)效長度為(wei)50cm(7～100cm)。毛細(xi)管(guan)(guan)兩(liang)端(duan)分(fen)(fen)別浸(jin)入兩(liang)分(fen)(fen)開的(de)緩(huan)(huan)沖(chong)(chong)液(ye)(ye)中(zhong)，同(tong)(tong)時兩(liang)緩(huan)(huan)沖(chong)(chong)液(ye)(ye)中(zhong)分(fen)(fen)別插入連(lian)有(you)高(gao)壓(ya)(ya)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)源的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)極(ji)，該(gai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)使(shi)得分(fen)(fen)析樣品沿毛細(xi)管(guan)(guan)遷(qian)(qian)(qian)移，當分(fen)(fen)離(li)樣品通過(guo)(guo)檢(jian)測器時，可對樣品進(jin)(jin)行(xing)分(fen)(fen)析處理(li)。HPLC進(jin)(jin)樣一(yi)般(ban)采用(yong)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)動(dong)(dong)(dong)力學(xue)進(jin)(jin)樣(低電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya))或(huo)流(liu)體力學(xue)進(jin)(jin)樣(壓(ya)(ya)力或(huo)抽(chou)吸(xi))兩(liang)種方(fang)(fang)式。在(zai)毛細(xi)管(guan)(guan)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)泳系統中(zhong)，帶(dai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)溶(rong)質(zhi)(zhi)(zhi)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)下發生定向(xiang)遷(qian)(qian)(qian)移，其(qi)(qi)表(biao)觀(guan)遷(qian)(qian)(qian)移速度是溶(rong)質(zhi)(zhi)(zhi)遷(qian)(qian)(qian)移速度與溶(rong)液(ye)(ye)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)滲流(liu)速度的(de)矢量和。所(suo)(suo)謂(wei)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)滲是指(zhi)在(zai)高(gao)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)壓(ya)(ya)作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)下，雙電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)層中(zhong)的(de)水(shui)合陰離(li)子引起(qi)流(liu)體整體地朝負(fu)極(ji)方(fang)(fang)向(xiang)移動(dong)(dong)(dong)的(de)現象;電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)泳是指(zhi)在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)解質(zhi)(zhi)(zhi)溶(rong)液(ye)(ye)中(zhong)，帶(dai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)粒子在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)下，以不同(tong)(tong)的(de)速度向(xiang)其(qi)(qi)所(suo)(suo)帶(dai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷相反方(fang)(fang)向(xiang)遷(qian)(qian)(qian)移的(de)現象。溶(rong)質(zhi)(zhi)(zhi)的(de)遷(qian)(qian)(qian)移速度由其(qi)(qi)所(suo)(suo)帶(dai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷數和分(fen)(fen)子量大(da)小決定，另(ling)外還受緩(huan)(huan)沖(chong)(chong)液(ye)(ye)的(de)組(zu)成、性質(zhi)(zhi)(zhi)、pH值等多種因素影響。帶(dai)正(zheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷的(de)組(zu)份(fen)沿毛細(xi)管(guan)(guan)壁(bi)形成有(you)機雙層向(xiang)負(fu)極(ji)移動(dong)(dong)(dong)，帶(dai)負(fu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷的(de)組(zu)分(fen)(fen)被分(fen)(fen)配(pei)至毛細(xi)管(guan)(guan)近(jin)中(zhong)區域，在(zai)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)場作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)下向(xiang)正(zheng)極(ji)移動(dong)(dong)(dong)。與此同(tong)(tong)時，緩(huan)(huan)沖(chong)(chong)液(ye)(ye)的(de)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)滲流(liu)向(xiang)負(fu)極(ji)移動(dong)(dong)(dong)，其(qi)(qi)作(zuo)(zuo)(zuo)用(yong)超過(guo)(guo)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)泳，最終導致帶(dai)正(zheng)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷、中(zhong)性電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷、負(fu)電(dian)(dian)(dian)(dian)(dian)荷的(de)組(zu)份(fen)依次通過(guo)(guo)檢(jian)測器。

MECC是在(zai)CZE基礎上(shang)使(shi)用表面(mian)活性(xing)劑來充當膠(jiao)束(shu)相(xiang)(xiang)，以膠(jiao)束(shu)增溶(rong)作(zuo)為(wei)分(fen)(fen)(fen)配(pei)原理，溶(rong)質在(zai)水(shui)相(xiang)(xiang)、膠(jiao)束(shu)相(xiang)(xiang)中(zhong)(zhong)的分(fen)(fen)(fen)配(pei)系(xi)數不(bu)同(tong)，在(zai)電(dian)(dian)場(chang)作(zuo)用下，毛細管中(zhong)(zhong)溶(rong)液的電(dian)(dian)滲流和(he)膠(jiao)束(shu)的電(dian)(dian)泳(yong)，使(shi)膠(jiao)束(shu)和(he)水(shui)相(xiang)(xiang)有不(bu)同(tong)的遷移速度(du)，同(tong)時待分(fen)(fen)(fen)離物質在(zai)水(shui)相(xiang)(xiang)和(he)膠(jiao)束(shu)相(xiang)(xiang)中(zhong)(zhong)被多次分(fen)(fen)(fen)配(pei)，在(zai)電(dian)(dian)滲流和(he)這種(zhong)分(fen)(fen)(fen)配(pei)過程的雙重作(zuo)用下得(de)以分(fen)(fen)(fen)離。MECC是電(dian)(dian)泳(yong)技術與色譜法的結合，適合同(tong)時分(fen)(fen)(fen)離分(fen)(fen)(fen)析中(zhong)(zhong)性(xing)和(he)帶電(dian)(dian)的樣品分(fen)(fen)(fen)子(zi)。

掃描隧道顯微鏡(STM)的(de)(de)(de)基本原(yuan)(yuan)理是利用量子理論中的(de)(de)(de)隧道效應。將原(yuan)(yuan)子線度的(de)(de)(de)極(ji)細(xi)探(tan)針和(he)被研究物質的(de)(de)(de)表面(mian)作(zuo)為兩個電(dian)(dian)極(ji)，當樣品(pin)與針尖(jian)的(de)(de)(de)距離非常(chang)(chang)接近時(通常(chang)(chang)小于1nm)，在外加電(dian)(dian)場的(de)(de)(de)作(zuo)用下，電(dian)(dian)子會(hui)穿過兩個電(dian)(dian)極(ji)之間的(de)(de)(de)勢(shi)壘流向另(ling)一電(dian)(dian)極(ji)。這種(zhong)現象即(ji)是隧道效應。

原子(zi)力顯微(wei)(wei)鏡的(de)工作原理就(jiu)是將(jiang)探針裝在一(yi)彈性微(wei)(wei)懸臂(bei)的(de)一(yi)端(duan)，微(wei)(wei)懸臂(bei)的(de)另一(yi)端(duan)固定(ding)，當探針在樣(yang)品表(biao)面掃描時，探針與樣(yang)品表(biao)面原子(zi)間(jian)的(de)排斥力會使(shi)得微(wei)(wei)懸臂(bei)輕(qing)微(wei)(wei)變形(xing)(xing)，這樣(yang)，微(wei)(wei)懸臂(bei)的(de)輕(qing)微(wei)(wei)變形(xing)(xing)就(jiu)可以作為(wei)探針和(he)樣(yang)品間(jian)排斥力的(de)直接量度(du)。一(yi)束激光經(jing)微(wei)(wei)懸臂(bei)的(de)背面反射到(dao)光電檢(jian)測(ce)(ce)器，可以精確測(ce)(ce)量微(wei)(wei)懸臂(bei)的(de)微(wei)(wei)小(xiao)變形(xing)(xing)，這樣(yang)就(jiu)實現了通過檢(jian)測(ce)(ce)樣(yang)品與探針之間(jian)的(de)原子(zi)排斥力來反映樣(yang)品表(biao)面形(xing)(xing)貌和(he)其他表(biao)面結構。

俄(e)(e)歇(xie)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)能譜(pu)基本原(yuan)理：入射(she)(she)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)束和物(wu)質作用，可以(yi)激(ji)發(fa)出原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)的內層(ceng)(ceng)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)。外層(ceng)(ceng)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)向(xiang)內層(ceng)(ceng)躍遷過程中所釋放(fang)的能量，可能以(yi)X光的形式(shi)放(fang)出，即產(chan)生特征X射(she)(she)線(xian)(xian)，也(ye)可能又(you)使核外另(ling)一(yi)(yi)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)激(ji)發(fa)成為自由(you)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)，這(zhe)種自由(you)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)就是俄(e)(e)歇(xie)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)。對于一(yi)(yi)個(ge)原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)來說,激(ji)發(fa)態原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)在釋放(fang)能量時只能進行(xing)一(yi)(yi)種發(fa)射(she)(she)：特征X射(she)(she)線(xian)(xian)或俄(e)(e)歇(xie)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)。原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)序數大(da)的元素(su)(su)，特征X射(she)(she)線(xian)(xian)的發(fa)射(she)(she)幾率(lv)較大(da)，原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)序數小(xiao)的元素(su)(su)，俄(e)(e)歇(xie)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)發(fa)射(she)(she)幾率(lv)較大(da)，當原(yuan)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)序數為33時，兩種發(fa)射(she)(she)幾率(lv)大(da)致相等。因此，俄(e)(e)歇(xie)電(dian)(dian)(dian)子(zi)(zi)(zi)(zi)(zi)能譜(pu)適用于輕元素(su)(su)的分析(xi)。