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總結氧化鋯氧量分析儀老化的主要表現

日期:2016-05-06 信息來源:本站


 

氧化(hua)鋯氧量分析儀(yi)由氧濃(nong)度(du)差電動勢(shi),經檢(jian)測轉(zhuan)換成與被(bei)測氣體含(han)氧量(liang)成線(xian)性關系(xi)(xi)的(de)標準(zhun)電(dian)壓信(xin)號(hao)(hao),輸入到數字儀(yi)表(biao)輸入端(duan),經A/D轉(zhuan)換輸入到儀(yi)表(biao)的(de)CPU,經運算后,一(yi)路(lu)輸送(song)至(zhi)儀(yi)表(biao)顯(xian)示(shi)(shi)氧含(han)量(liang), 一(yi)路(lu)輸送(song)至(zhi)儀(yi)表(biao)顯(xian)示(shi)(shi)溫度(du)值,并輸出相應的(de)脈沖控制(zhi)(zhi)(zhi)信(xin)號(hao)(hao)控制(zhi)(zhi)(zhi)溫度(du)值,或4-20mA模擬(ni)信(xin)號(hao)(hao),供其他控制(zhi)(zhi)(zhi)系(xi)(xi)統使用(yong),儀(yi)表(biao)設有(you)氧含(han)量(liang)、溫度(du)報(bao)警指示(shi)(shi),并附(fu)有(you)外接(jie)報(bao)警繼(ji)電(dian)器。儀(yi)表(biao)采用(yong)可靠的(de)開關電(dian)源,冷端(duan)補償采用(yong)三線(xian)制(zhi)(zhi)(zhi)Pt100,低漂移運放(fang),高分辯率A/D轉(zhuan)換,LED高亮度(du)、雙排數字顯(xian)示(shi)(shi),PID溫度(du)自整定(ding)控制(zhi)(zhi)(zhi),帶有(you)4-20mA,或RS232/485通訊接(jie)口(kou)。

氧化(hua)鋯(gao)在(zai)使用一(yi)段時(shi)間(jian)后,探頭往(wang)往(wang)會(hui)發生老化(hua)現象。反應老化(hua)程度主要有(you)兩個指標:一(yi)是本(ben)底電勢(shi),又稱殘余電勢(shi),二是探頭的內阻。檢查本(ben)底電勢(shi)時(shi),在(zai)校驗(yan)氣(qi)口通入空氣(qi),待測氣(qi)體與參比氣(qi)相同,理(li)論(lun)上本(ben)地電勢(shi)應為零,實際不為零,一(yi)般要求(qiu)本(ben)底電勢(shi)<5Mv

(1)本底電勢增大

本底(di)電(dian)勢是電(dian)池(chi)(chi)附加(jia)電(dian)勢。引(yin)起本底(di)電(dian)勢增大的(de)因(yin)(yin)素(su)(su)有兩種(zhong):一(yi)種(zhong)屬于(yu)永存(cun)因(yin)(yin)素(su)(su),它寄生的(de)電(dian)池(chi)(chi)上(shang),電(dian)池(chi)(chi)不對稱因(yin)(yin)素(su)(su);另一(yi)種(zhong)屬于(yu)暫存(cun)因(yin)(yin)素(su)(su),如電(dian)極(ji)各灰、空氣(qi)對流(liu)差等因(yin)(yin)素(su)(su),一(yi)旦條件改善,本底(di)電(dian)勢便可(ke)降低。

本底電勢(shi)的變大,往往反映檢(jian)測(ce)器的老化程度,當E0值(zhi)超過(guo)分(fen)析儀的最大調節(jie)量(liang)時,就(jiu)說明檢(jian)測(ce)器已經損壞。

需(xu)要注(zhu)意的(de)是,有(you)些檢(jian)測(ce)器的(de)老化表現(xian)在本(ben)(ben)底電勢變(bian)(bian)大上,而有(you)些檢(jian)測(ce)器雖(sui)然(ran)老化,但卻沒有(you)這種現(xian)象(xiang),所以我們需(xu)要認真(zhen)分析對待(dai)。當本(ben)(ben)底電勢變(bian)(bian)大的(de)原因(yin)是由暫存因(yin)素引起時,隨著使用時間的(de)推(tui)移,則有(you)可能(neng)出現(xian)本(ben)(ben)底電勢先變(bian)(bian)大,再變(bian)(bian)小的(de)現(xian)象(xiang)。

(2)內阻(zu)升高

實(shi)際(ji)運用中(zhong),氧化(hua)(hua)鋯(gao)(gao)氧量分析儀老(lao)化(hua)(hua)引(yin)起的(de)內阻(zu)增大較多(duo)。內阻(zu)是指信(xin)號線兩端(duan)間(jian)的(de)輸入電(dian)阻(zu),它是引(yin)線電(dian)阻(zu)、電(dian)極(ji)與氧化(hua)(hua)鋯(gao)(gao)間(jian)界面(mian)電(dian)阻(zu)及氧化(hua)(hua)鋯(gao)(gao)體(ti)積電(dian)阻(zu)三部分之和(he),因(yin)此,電(dian)極(ji)揮發(fa)、電(dian)極(ji)脫(tuo)落和(he)氧化(hua)(hua)鋯(gao)(gao)電(dian)解質的(de)反穩,都將引(yin)起內阻(zu)升高。測量檢測器(qi)內阻(zu),可以判斷其(qi)老(lao)化(hua)(hua)情況。根據經驗,當內阻(zu)增大到(dao)接近(jin)其(qi)使(shi)用極(ji)限(xian)時,將出現(xian)信(xin)號大跳動現(xian)象,有(you)些反應(ying)為響應(ying)遲緩的(de)現(xian)象。對于這些檢測器(qi),其(qi)本底電(dian)勢不(bu)一(yi)定(ding)很大。

 


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